日本表面科学会　第81回表面科学研究会
日本真空学会　2014 年 2 月研究例会

主題「放射線Ｘ線・中性子線技術を利用した溶液に埋もれた界面構造解析」

　超高真空下と異なりこれまで溶液に埋もれた界面では、溶液層（主として水）の存在によりその場構造解析は困難とされて
きました。放射光を利用したＸ線・中性子線技術は、その困難さを克服し界面の詳細な三次元構造を知る数少ない手法のうち
の１つですが、その利用は限られており、特に国内で本手法を用いているグループは少ないのが現状です。そこで、Ｘ線・中
性子線技術の有用性を広く示し、Ｘ線・中性子線技術による埋もれた界面のその場構造解析の利点・問題点を議論していただ
き、この分野のさらなる発展に寄与する事を目的とし、本研究会を企画いたしました。本研究会では、この分野を先導してい
る６名の講師の方々をお招きし、放射光を利用したＸ線・中性子線技術の埋もれた界面への適用例を紹介していただき、最先
端の研究結果を含めて講演していただきます。多くの方々のご参加をお待ちしております。

　　　　　案内（PDF 285KB）

 
日　時　2014年2月5日(水)　10:20〜16:00（受付9:50〜）
　　　　
会　場　東京理科大学　森戸記念館　第1会議室
　　　　　　　東京都新宿区神楽坂4-2-2　　TEL 03-5228-8110
　　　　　　　http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html
　　　　　　 （飯田橋駅下車 徒歩6分，牛込神楽坂駅下車 徒歩4分）

講演プログラム＜各講演40分（質疑応答込）＞
　開会の挨拶　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 10:20〜10:25
　1．Ｘ線を利用した固液界面計測（仮題）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（お茶ノ水女子大）近藤 敏啓　10:25〜11:05
　2．Ｘ線回折法による固液界面の電気二重層構造とダイナミクス
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（千葉大学）中村 将志　11:05〜11:45
　（休憩）

　3．埋もれた界面の中性子解析（仮題）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（物質・材料研究機構）櫻井 健次　13:00〜13:40
　4．中性子反射率計ＳＯＦＩＡを用いた固液界面測定
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（高エネルギー加速器研究機構）山田 悟史　13:40〜14:20
　（休憩）

　5. 軟Ｘ線吸収分光法による電極固液界面の局所構造の解明
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（分子科学研究所）長坂 将成　14:35〜15:15
　6. Ｘ線反射率測定によるイオン液体界面の構造解析
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 （京都大学）西　直哉　15:15〜15:55

　閉会の挨拶　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 15:55〜16:00


参加費（当日会場にてお支払いください）
　　　日本表面科学会会員，日本真空学会会員：2,500 円（予稿集代を含む）
　　　非会員　　　　　　　　　　　　　　　：3,500 円（予稿集代を含む）
　　　学生　　　　　　　　　　　　　　　　：無　　料（予稿集500円）


申込方法
　　　ウェブサイト（http://www.sssj.org/）またはE-mail にて、次の項目を記入してお申込ください。
　　　　・氏名（ふりがな）　・所属　・連絡用E-mailアドレス　・参加区分（会員，学生，一般）

問い合わせ先
　　　公益社団法人 日本表面科学会　TEL 03-3812-0266  FAX 03-3812-2897
　　　　　　　　　　　　　　　　　 E-mail: shomu@sssj.org　URL: http://www.sssj.org
　　　一般社団法人 日本真空学会　　TEL 03-3431-4395  FAX 03-3433-5371
　　　　　　　　　　　　　　　　　 E-mail: ofc-vsj@vacuum-jp.org　URL: http://www.vacuum-jp.org

　　※お申込に際しご記載いただきましたメールアドレスは、日本表面科学会，日本真空学会が主催する本件以外のセミナー・
　　　講演会などのご案内にも使用させていただく場合がございます。ご案内が不要な方はお手数ですがその旨お申し出ください。